聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線:
聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線,通過溶M熱法,在180°C,利用聚丙烯酰胺輔助合成了直徑約為20nm,長度為幾百納米到幾微米的 CdSe納米線.通過XRIK TEM、HRTEM表征了產(chǎn)物的結(jié)構(gòu)和形貌,并且討論了反應(yīng)時間對產(chǎn)物形貌的 影響以及聚合物輔助納米線生長的機(jī)制■通過紫外-可見光譜和光致發(fā)光光譜研究了納米線的光學(xué)性能,在 冊O(shè)nm處有一明.顯的吸收峰,與體相材料相比具有明顯的置子尺寸效應(yīng).
—維納米材料,例如納米線、納米櫸,因其具 有獨(dú)特的光學(xué)性能、電學(xué)性能及機(jī)械性能,以 及近年來在構(gòu)建納米器件方面展現(xiàn)了巨大的應(yīng)用 潛力,成為人們研究的熱點(diǎn)
CdSet^g=L74eV)的直接躍遷帶隙較窄,具有 優(yōu)異的光電導(dǎo)性能和穩(wěn)定的熒光特性[1(U1],被廣 泛的應(yīng)用于光學(xué)材料.太陽能材料和傳感器[11 一 13I. 一維CdSe納米線已拫道的合成方法包括化學(xué)氣相 沉積(CVD) 1電化學(xué)沉積、激光催化.溶劑熱等方 法[in'其中溶劑熱法具有產(chǎn)率較高.產(chǎn)物形貌均 一,聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線,反應(yīng)條件可控,實(shí)驗(yàn)條件溫和等優(yōu)點(diǎn),備受關(guān) 注.雖然已有利用聚乙烯醇(PVA)輔助合成CdSe 納米線的報(bào)道但并未探討在聚合物輔助作用 下納米線的生長機(jī)制.本工作分別采用硫酸鎘和二 氧化砸作為鎘源和硒源,乙二胺為溶劑,以聚丙烯 酰胺(PAM)為軟模板,180°C合成CdSem米線, 并且初步討論了在聚合物輔助下納米線的生長過 程.
2實(shí)驗(yàn)部分 2.1試劑
購自北京益利精細(xì)化學(xué)品有限公司;聚丙烯酰胺 (polyacrylamide)購自 Aldrich 公司;乙二胺(ethyl- enediamine)購自廣東光華化學(xué)廠有限公司.所有試 剤均為分析純,無需進(jìn)一步純化.
2.2 CdSe納米線的合成
首先將O.OOlmol CdS04溶于20mL_蒸餾水中, 加入2g聚丙烯酰胺(PAM),并靜置10 h,然后,將此 混合物在60°C脫水至恒重,形成凝膠;將O.OOlmd Se02溶于2mL蒸餾水中,與前述PAM凝膠混合 并放入50mL髙壓反應(yīng)釜中,用20mL乙二胺填充 剩余體積;在180°C,反應(yīng)2.5~48h;反應(yīng)結(jié)束后將 產(chǎn)物用蒸餾水和乙醇交替離心洗滌,60°C真空干 燥4h,即得最終產(chǎn)物.
2.3樣品表征
CdSe納米線的結(jié)構(gòu)通過德國Braker.D8型X射 線粉末衍射儀(Cu Ka, A=0.154060nm)進(jìn)行分析; 納米線的形貌與尺寸通過飛利浦FEI-Techani透射 電子顯微鏡進(jìn)行表征和分析s通過CARY 100 UV- Visible分光光度計(jì)和CARY Eclipse熒光分光光度 計(jì)測試其光學(xué)性質(zhì).
3結(jié)果和討論
3.1 CdSe納米線的XRD表征
圖1是在1S0°C的條件F,由PAM輔助反應(yīng) 5?合成產(chǎn)物的XRD圖譜.其中衍射圖譜a、 b、e分別對應(yīng)5、24和48h的合成產(chǎn)物.從三個 階段反應(yīng)產(chǎn)物的X射線衍射圖譜中均觀察到對應(yīng) 六方纖梓礦(1〇〇)、(002)、(101)、(102). (110)、 (103). (112) . (2(«)、(212) t (300)衍射晶面位 于 23.98°、25.45° , 27.08° , 35.12 0 , 42.06°、 45,91。、49.82°、63.96° , 72.30。和 76.86° 的特 征衍射峰,聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線,晶格常數(shù)為a=4.282C4A,c=6.99383A,與 六方纖鋅礦相CdSe的標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜(JCPDS卡 459)—致.進(jìn)一步比較各衍射峰的強(qiáng)度發(fā)現(xiàn)隨著 反應(yīng)時間的延長除了(002)晶面的衍射峰強(qiáng)度明M 增強(qiáng)外,(110)和(112)晶面的衍射峰強(qiáng)度也異常 增強(qiáng),同時在24和48h的反應(yīng)產(chǎn)物的衍射圖譜中 出現(xiàn)了位于30.07°、61,09°的衍射峰,分析表明 25.45。,30.07° , 42.06°、49.82。以及 61.09。的 衍射峰亦分別對應(yīng)立方閃鋅礦相CdSe的(111) 1 (2〇0)、(22〇)、(m)和(4〇0)衍射晶面,晶格常數(shù) a=5-9399A,與立方閃鋅礦相CdSe的標(biāo)準(zhǔn)衍射圖譜 (JCPDS卡19-191)—致.可以確定合成產(chǎn)物中六方 纖鋅曠相CdSe晶體和立方閃鋅礦相CdSe晶體兩 相共存.
3.2CdSe納米線的TEM表征
圖2中(a)圖是在180°C條件下,由PAM輔 助反應(yīng)24h的CdSe納米線透射電子顯微圖像. 結(jié)果表明,納米線的直徑均勻,約為20nm,長度 >500mn,長徑比>2〇. (b)圖中的高分辨電子顯微 圖像(HRTEM)和選區(qū)電子衍射花樣一致證明該納 米線具有單晶閃鋅礦結(jié)構(gòu),并且納米線沿[111]晶 向均勻生長.
3.3CdSe納米線的生長機(jī)制
采用溶劑熱法制備化合物半導(dǎo)體納米線,通過 將前驅(qū)物加入到有機(jī)溶劑中,根據(jù)LiYadong等 提出的溶劑配位分子模板機(jī)理,有機(jī)溶劑首先在較 低溫度下與Cd2+形成絡(luò)合物,隨著溫度的升高, Cd2+逐漸從絡(luò)合物中分解出來,與溶劑中的Se2- 反應(yīng)生成CdSe.本文以聚丙烯酰胺(PAM)和Cd2+ 形成的脫水凝膠作為鎘源.已有的研究結(jié)果[21】表 明,PAM首先與鎘鹽形成均一的固體凝膠,高溫
Cd2++Se2-
(3)
下乙二胺逐漸滲透到膠體中與Cd2+形成絡(luò)合物, 隨著溫度的升高,在聚合物的限域作用下,CdSe 晶體會沿著一定的方向均勻生長.因此聚合物分子
在控制納米線的形貌方面起到至關(guān)重要的作用.本 文采用Se02作為硒源,通過水解和歧化反應(yīng)(反應(yīng) 式⑴,⑵)得到Se2、進(jìn)而合成CdSe納米線(反 應(yīng)式(3)).
Se02+H20^Se0^-+2H+(1)
4SeO=- ^ Se2-+3Se〇|~⑵
Combination cdq
反應(yīng)中可以同時系統(tǒng)調(diào)整反應(yīng)參數(shù),如反應(yīng)溫
度、反應(yīng)時間,前驅(qū)物比例等來控制納米線的形 貌.隨著反應(yīng)時間的延反應(yīng)溫度的升髙,納米 線的長徑比逐淅增大,納米線形貌趨于均一.
圖3(a)?3(d)分別是反應(yīng)2.5,5、24和48h 得到的產(chǎn)物的TEM圖像.聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線,圖中清晰地表明產(chǎn)物形 貌從球形經(jīng)過線團(tuán)狀.納米棒直至納米線的轉(zhuǎn)變過 程-
反應(yīng)時間為2.5h,得到球狀膠體顆粒,對這些 顆粒進(jìn)行選區(qū)衍射,沒有得到晶體衍射斑點(diǎn),證明 這些顆粒是非晶態(tài)組織,并且部分發(fā)生團(tuán)聚,如圖 3(a)所示.反應(yīng)5h,CdSe晶體t先在膠體顆粒中形 核并逐漸長大,很多納米晶須從球形顆粒內(nèi)部生長 出來,得到類似線團(tuán)的產(chǎn)物.
反應(yīng)時間延長至24h,產(chǎn)物中己 沒有非晶態(tài)顆粒,納米晶須逐漸生長為長徑比較 小的納米棒結(jié)構(gòu),如圖3(c)所示,納米棒直徑為 15?20nm,長度約為幾百納米.經(jīng)過漫長的晶體生 長,48h得到長徑比明顯增大的CdSe納米線(圖 3(d)).結(jié)果表明,隨著反應(yīng)時間的延長,納米線直 徑并無明顯變化,而長度明顯增加,長徑比逐漸增 大,因此在X射線衍射花樣中也表現(xiàn)出明ffi增強(qiáng) 的擇優(yōu)取向(圖1).
為了證實(shí)聚丙烯酰胺(PAM)在納米線合成中 的作用,本文首先對在無PAM參加反應(yīng)的情況 下,保持其他反應(yīng)條件不變,24h合成的產(chǎn)物進(jìn) 行TEM表征,圖4中(a)圖即無PAM參與反應(yīng) 合成產(chǎn)物的TEM照片.很明顯,在沒有聚合物參 與反應(yīng)的條件下只合成了團(tuán)聚的棒狀產(chǎn)物,4(c) 中的X射線衍射證實(shí)產(chǎn)物為CdSe晶體.將此產(chǎn)物 與PAM混合,在相同條件下反應(yīng)24:h,得到圖4(b) 中的CdSe納米線.實(shí)踐證明,PAM有助于CdSe 納米棒重結(jié)晶生長為長徑比明a增大的納米線結(jié) 構(gòu),推測CdSe納米棒在與PAM混合后,高溫下通 過苒結(jié)晶和擇優(yōu)生長進(jìn)一步生長成納米線結(jié)構(gòu).
由于溶劑中沒有游離的前驅(qū)物,晶體的生長不能 得到離子派的補(bǔ)充,因此圖4(b)中的納米線與圖 3相比,形貌明顯不均一.因此,實(shí)踐證明聚丙肺 醜胺在CdSe納米線的生長過程中起到重要作 不僅有利于晶體的線性生長,而且可以有效地影 響離子源在溶劑中的均勻擴(kuò)散,有助于晶體的均 勾生長•
2.4納米線的光學(xué)性能
通過CARY 100 UV-Visible分光光度計(jì)和 CARY Eclipse熒光分光光度計(jì)測試納米線光學(xué)性
質(zhì).測試前將CdSe納米線超聲分散于無水乙醇 中.圖5中(a)、5(b)分別是CdSe納米線的紫外- 可見光譜和光致熒光光譜.從圖5(a)中可以看出 CdSe納米線在660mn處有一個明顯的吸收峰, 與之對應(yīng)的帶隙能為l.SSeV,與體相CdSe(713rnn, l.MeV)相比,發(fā)生了 53nm的藍(lán)移,這是由于CdSe
納米線的量子限域效應(yīng)引起的(W1.以Xe燈作激發(fā) 光源,激發(fā)波長490mn,得到光致熒光光譜,由圖 5(b)可看出在688nm(1.80eV)處出現(xiàn)一個明顯的熒 光發(fā)射峰,與已有的研究結(jié)果1221相似,可以判斷 此熒光發(fā)射峰是由CdSe納米線晶體的禁帶發(fā)光引 起的,與體相相比,有明顯的藍(lán)移.另外,705mn 處出現(xiàn)的另一個熒光發(fā)射峰,推測是由缺陷態(tài)引 起的.根據(jù)物相分析的結(jié)果,此CdSe納米線晶體 存在六方纖鋅礦相(A£=1.738eV)和四方閃鋅礦相 (ASzl.eeeV)兩相組織,由于兩相組織在疇界區(qū)域 能級分立,必然存在能級差,形成能級錯排從 而影響疇界區(qū)的電子勢能,導(dǎo)致缺陷態(tài)發(fā)光.此 外,納米線的表面缺陷,聚丙烯酰胺輔助溶劑熱法合成納米線,如硒空位和鎘空位也可能 導(dǎo)致納米晶體的缺陷態(tài)發(fā)光,因此關(guān)于兩相混合 的CdSe納米晶體的發(fā)光特性還有待進(jìn)一步研究.
4結(jié)論
采用溶劑熱法,在聚丙烯酰胺的輔助下合成了 CdSe納米線.CdSe納米線的生長經(jīng)歷了四種形貌 變化,從球形顆粒經(jīng)過線團(tuán)狀、納米棒直至納米 線.同時分析了聚丙烯酰胺在納米線晶體生長過 程中的重要作用.實(shí)踐表明,這種合成方法適用于 合成結(jié)構(gòu)均一的CdSe納米線,通過改變離子源, 亦可以合成其它硫族化合物半導(dǎo)體.另外,由T納 米顆粒中存在兩相組織,故推測其特殊的熒光性 能派于兩相組織的能級錯排,進(jìn)一步的結(jié)論還有 待繼續(xù)研究和探索.
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